东大21秋学期学期《现代材料测试技术》在线平时作业3[答案]答案
《现代材料测试技术》在线平时作业3
试卷总分:100 得分:100
一、单选题 (共 10 道试题,共 50 分)
1.X射线连续谱中存在一个短波极限,其波长入=( )。
A.1.24/V(千伏) nm
B.12.4/V(千伏) nm
C.12.4/V伏 nm
2.吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小,吸收电子( )。
A.越多
B.越少
C.不变
3.能谱仪的分辨率比波谱仪( )。
A.高
B.低
C.相同
4.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为( )。
A.球差
B.景深
C.焦深
5.产生俄歇电子深度范围为表层以下( )。
A.10nm左右
B.2nm左右
C.1nm左右
6.系统消光规律中同种原子体心晶胞中存在的衍射晶面是( )。
A.(100)
B.(203)
C.(110)
7.入射电子波在样品中振荡的深度周期叫做( )。
A.衍射衬度
B.消光距离
C.偏离矢量
8.让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法,叫做( )。
A.明场成像
B.暗场成像
C.中心暗场成像
9.据Ewald图解可知,满足衍射条件的晶面倒易点阵,必落在半径为( )的反射球面上。
正确答案:-----
A.1/入
B.2/入
C.1/2 入
10.物质对X射线的吸收主要是由( )引起的。
A.散射
B.热效应
C.光电效应
东大21秋学期学期《现代材料测试技术》在线平时作业3[答案]多选题答案
二、判断题 (共 10 道试题,共 50 分)
11.晶体的电子衍射斑点是相应晶体倒易点阵二维截面的放大象。
12.扫描电镜二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。
13.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
14.放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。
15.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
正确答案:-----
16.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
17.面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射,而 H+K+L 为奇数不出现反射。
21.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。
19.原子序数衬度是利用对原子序数变化敏感的背散射电子作为调制信号而形成的形貌像。
20.扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。
东大21秋学期学期《现代材料测试技术》在线平时作业3[答案]历年参考题目如下:
21春学期《现代材料测试技术》在线平时作业3题目
试卷总分:100 得分:100
一、单选题 (共 10 道试题,共 50 分)
1.在透射电镜中称为衬度光阑的是( )。
A.聚光镜光阑
B.物镜光阑
C.选区光阑
2.透射电镜的两种主要功能是检测( )。
A.表面形貌和晶体结构
B.内部组织和晶体结构
C.表面形貌和内部组织
3.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做( )。
A.二次电子
B.背散射电子
C.俄歇电子
4.在debye照相法中,不受底片收缩影响的底片安装方法是( )。
A.正装
B.反装
C.不对称
5.样品微区成分分析手段包括( ) 。
A.WDS、EDS 和XRD
B.WDS、EDS和EPMA
C.TEM、WDS和XRD
6.把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的( )。
A.景深
B.焦深
C.球差
7.倒易点阵中的一点代表的是正点阵中的( )。
A.一个点
B.一个晶面
C.一组晶面。
8.俄歇电子能谱仪的主要功能是( )。
A.测表面成分和晶体结构
B.测内部化学成分和组织
C.测表面化学成分
9.把透镜像平面允许的轴向偏差定义为( )。
A.球差
B.景深
C.焦深
10.据Ewald图解可知,满足衍射条件的晶面倒易点阵,必落在半径为( )的反射球面上。
A.1/入
B.2/入
C.1/2 入
二、判断题 (共 10 道试题,共 50 分)
11.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
12.透射电镜成像系统中,若使中间镜物平面与物镜像平面重合的操作称为成像操作;而使中间镜的物平面与物镜背焦面重合的操作称为衍射操作。
13.面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射,而 H+K+L 为奇数不出现反射。
14.在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。
15.体心立方点阵的系统消光规律是当 H、k、L全为奇数或全为偶数时才出现反射。
16.背散射电子像和吸收电子像都可以显示样品的元素分布状态。
17.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
18.随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
19.当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。
20.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。